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日本SIBATA柴田用微差壓計測量被測物體的吸氣阻力口罩性能檢測系統(tǒng) AP-9000北崎熱賣
2025/08/26 12:01:55
環(huán)境測量設備
口罩性能檢測系統(tǒng) AP-9000
本設備AP-9000可以根據(jù)《職業(yè)安全衛(wèi)生法》(平成12年修訂)對防塵口罩進行性能測試。 它旨在防止作錯誤,任何人都可以輕松實施。 AP-9000使用AP-9000G顆粒發(fā)生器,通過產生*測試規(guī)定的NaCl和DOP顆粒,連續(xù)測量防塵口罩和口罩過濾器的顆粒收集效率和吸入阻力。 可以在隨附的PC上輕松執(zhí)行測量條件和數(shù)據(jù)處理,并可以判斷測量結果的合格/失敗。 每次測量的收集效率和進氣阻力的變化以圖表形式顯示在屏幕上,也可以打印。
特點
基于職業(yè)安全衛(wèi)生法的防塵口罩顆粒收集效率測試,任何人都可以輕松進行。
85L/min可測量集塵效率和進氣阻力。
測量結果的合格/不合格判斷值可任意設置。
結構
使用顆粒發(fā)生單元
AP-9000G(NaCl)。 (詳情請參閱粒子發(fā)生器AP-9000G)
測量部分
這是一種密度檢測器,可同時測量測試對象上下游的顆粒濃度并評估收集效率。
同時,用微差壓計測量被測物體的吸氣阻力。
記錄計算部使用個人計算機設置
測量系統(tǒng)的條件,并顯示和記錄測量數(shù)據(jù)。 每次測量時,由于測試顆粒的沉積而導致的收集效率和進氣阻力的變化都會顯示在屏幕上,也可以用打印機打印。
項目代碼 | --- | |
---|---|---|
型 | AP-9000 檢測單元 | |
測量原理 | 集塵效率:光散射光強積分法
進氣電阻:半導體傳感器 | |
測量對象 | 防塵口罩、口罩用過濾介質 | |
測量范圍 | 除塵效率:0~* 吸氣阻力:0~1500Pa | |
測量精度 | ± 1%以內 | |
測量靈敏度 | D1:1CPM=1μg/m3 D2:1CPM=0.5μg/m3 進氣阻力:1Pa | |
測量項目 | 集塵效率、進氣阻力和負載測試 | |
設置流量 | 20、30、40、42.5、85L/min | |
測試顆粒 | NaCl 或 DOP | |
通過/失敗設置 | 集塵效率、進氣阻力 | |
質量 | 測量部分:115 kg,顆粒生成部分:76 kg | |
權力 | AC100V 50/60Hz 30A(*) | |
大小 | 測量部分:590(W)×570(D)×1154(H)mm 顆粒發(fā)生器:590(W)×570(D)×770(H)mm | |
價格(不含稅) | 聯(lián)系我們 | |
言論 | *有關 AP-9000G (NaCI) 顆粒發(fā)生裝置的規(guī)格,請參閱 AP-9000G (NaCI)。 |